Для цитирования:
Сандалов В. Н., Каланов М. У., Ибрагимова Э. М., Муминов М. И. Низкотемпературная электропроводность облученного влажного пористого стекла // Электрохимическая энергетика. 2006. Т. 6, вып. 4. С. 179-?. , EDN: OWWVGJ
Низкотемпературная электропроводность облученного влажного пористого стекла
Исследовался вклад протонной проводимости в поверхностный ток необлученных и облученных до дозы 105 Гр гамма-квантами изотопного источника Со60 влажных образцов пористого алюмосиликатного стекла в интервале температур 200–380 К. Обнаружено значительное возрастание величины поверхностного тока с максимумом при 306–310 К, полуширина которого при облучении смещается в сторону низких температур. Наблюдаемое уменьшение энергии активации протонной проводимости от 0.730 до 0.363 эВ объясняется тем, что ионизирующее гамма-облучение наряду с радиолизом воды приводит к увеличению количества свободных носителей зарядов, уменьшению времени жизни мелких ловушек и аннигиляции глубоких ловушек в поверхностном слое образца.
1. Васильева И. В., Мякин С. В., Рылова Е. В., Корсакова В. Г. // Журн. физ. химии. 2002. Т. 76, № 1. С. 84.
2. Горбачук Н. И., Гурин В. С., Поклонский Н. А. // Физика и химия стекла. 2001. Т. 27, № 6. С. 762.
3. Лукьянова Е. Н., Козлов С. Н., Демидович В. М., Демидович Г. Б. // Письма в ЖТФ. 2001. Т. 27, № 11. С. 1.
4. Ермакова Л. Э., Сидорова М. П., Медведева С. В. // Физика и химия стекла. 2001. Т. 27, № 1. С. 116.
5. Sandalov V. N., Muminov M. I., Ibragimova E. M. // J. Materials Science and Engineering B. 2004. V. 108, № 1–2. P. 171.
6. Муминов М. И., Сандалов В. Н. // Письма в ЖТФ. 2003. Т. 29, № 16. С. 687.
7. Китайгородский А. И. Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел. М.; Л.: Гостехтеориздат, 1952.
8. Boulos E. N., Kreidl N. J. Water in glass: a review // J. Canad. Ceram. Soc. 1972. V. 41. P. 83.
9. Нараев В. Н. // Физика и химия стекла. 2004. Т. 30, № 5. С. 499.
10. Abe Y., Hosono H. // Proc. XVI Intern. Congr. On Glass. Madrid, Spain, 1992. V. 4. P. 139.
11. Daiko Y., Akai T., Kasuga T., Nogami M. // J. Ceram. Soc. Japan. 2001. V. 109, № 10. P. 815.
12. Плетнев Р. Н., Дмитриев А. В. // Электронный журнал «Исследовано в России». 2003. Т. 4. С. 24. http: // zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2003/222/pdf
13. Койков С. Н., Пантелеев Ю. А. // Изв. вузов. Физика. 2001. № 5. С. 59.
14. Овидько И. А., Рейзис А. Б. // ФТТ. 2003. Т. 45, № 9. С. 1600.
15. Liebermann J., Petrusch W. // Eisenbahntechnische Rundschau. 2001. № 12. S. 759.
16. Гначенко С. Л., Давиденко И. И., Давиденко Н. А., Девин Дж. Л. // ФТТ. 2002. Т. 44, № 1. С. 87.
17. Перевезенцев В. Н. // ЖТФ. 2001. Т. 71, № 11. С. 136.
18. Мамыкин А. И. и др. // ФТП. 1995. Т. 29, № 10. С. 1874.
19. Козлов С. Н., Родионова Е. В., Демидович Г. Б. // Поверхность. 1993. Т. 12. С. 41.
20. Антонченко В. Я., Давыдов А. С., Ильин В. В. Основы физики воды. Киев: Наук. думка, 1991.